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규제

중국 지식재산 규제 당국, 상표법 관련 2개 규칙에 대한 공개 의견 수렴 시작

중국 국가지식산권국은 새로 개정된 상표법을 시행하기 위한 두 개의 보조 규제 문서 초안을 마련하고 오늘부터 두 문서에 대한 공개 의견 수렴을 시작했다. 개정법에 따른 상표 업무 처리 방안과 개정된 상표 심사 및 심판 지침을 담은 이 초안들은 법의 주요 개정 사항에 초점을 맞추고 사업자들이 제기한 우려 사항을 다루고 있다.

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